GEM探测器与X射线成像实验

周意，孙腊珍，孙金华
（中国科学技术大学 近代物理系，安徽 合肥 230026）

　　摘　要： 使用2个GEM探测器系统，分别用作增益测量和位置分辨测量. 用GEM探测器测量铜靶X射线能谱，能量分辨率为21.5%. 8 keV的X射线入射双层GEM探测器，实验测量x方向位置分辨为64 μm，y方向位置分辨为68 μm. 将科研成果经过精炼、核心提取，为核与粒子物理学科的本科生开设GEM探测器和X射线成像实验，使学生对高能粒子探测技术、数据获取和处理等有整体的理解.
　　关键词： GEM探测器；X射线成像；位置分辨率；能量分辨率
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