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wenzhang:1707:zy

GEM探测器与X射线成像实验

周意,孙腊珍,孙金华
(中国科学技术大学 近代物理系,安徽 合肥 230026)

  摘 要: 使用2个GEM探测器系统,分别用作增益测量和位置分辨测量. 用GEM探测器测量铜靶X射线能谱,能量分辨率为21.5%. 8 keV的X射线入射双层GEM探测器,实验测量x方向位置分辨为64 μm,y方向位置分辨为68 μm. 将科研成果经过精炼、核心提取,为核与粒子物理学科的本科生开设GEM探测器和X射线成像实验,使学生对高能粒子探测技术、数据获取和处理等有整体的理解.
  关键词: GEM探测器;X射线成像;位置分辨率;能量分辨率
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wenzhang/1707/zy.txt · 最后更改: 2017/08/03 22:02 由 guoweilw